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走査型電子顕微鏡

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走査型電子顕微鏡(SEM)を使用した引張試験の活用事例

走査型電子顕微鏡(SEM) を用いた引張試験の概要走査型電子顕微鏡(SEM)は、材料の表面を高解像度...
2025.05.02
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株式会社三弘 引張ステージ ISLシリーズ

引張ステージISLシリーズは、SEM、レーザー顕微鏡、デジタルマイクロスコープといった装置との組み合わせることで、引張試験中の試料の微細な変化を観察することができます。

ISL 引張ステージの詳しい情報
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